[한국강사신문 안상현 기자] 단국대학교(총장 김수복)는 전자전기공학부 김현진 교수팀이 한국반도체테스트학회가 6월 27일 The-K 호텔서울에서 개최한 제24회 한국반도체테스트학회 학술대회에서 최상위 2개 팀에게 수여하는 최우수논문상(SK하이닉스 후원)을 수상했다고 밝혔다.

김 교수팀은 논문 「이미지 매칭 기반 웨이퍼 결함 패턴 검출에 관한 연구」를 통해 반도체 재료인 웨이퍼의 불량 칩을 선별해 신뢰도를 높이고 수율을 향상하는 테스트 방법을 제안했다. 웨이퍼 가공 후 전기 테스트를 시각화해 AI머신러닝을 통한 불량 패턴을 인식하고 분류하는 방법이다. 연구와 논문 작성에는 전자전기공학부 권영욱(석사과정)·오수민(4년)이 함께 했다.

김 교수는 “반도체가 고집적 형태로 발전하면서 웨이퍼의 불량 칩 선별 테스트 검사의 중요성이 매우 커지고 있다”며 “의미있는 연구 결과로 최우수논문상을 받게 돼 영광”이라고 밝혔다. 김 교수는 이와 관련해 앞으로 특허를 출원하고 반도체 제조 시뮬레이션 소프트웨어인 전자설계자동화와 관련한 후속 연구에 매진한다는 계획이다.

한국반도체테스트학회는 메모리와 비메모리 등 반도체 전반의 테스트와 응용에 관하여 상호 연계를 통한 연구와 발전, 보급에 주력하고 있다. 동 학회가 개최한 이번 학술대회는 삼성전자, SK하이닉스, LG전자 등 국내 굴지의 반도체 기업들이 후원하는 국내 유일의 반도체 테스트 학술대회다.